Description
鐳射干涉儀 DynaFiz® Verifire™系列 大光圈鐳射干涉儀 多種波長可供選擇 干涉儀附件 產品升級套件 典型干涉儀配置 MetroPro®軟體介紹 抗振型鐳射干涉儀

3D表面輪廓量測儀 ZeGage™ ZeGage™ Plus  New! NewView™ 7100系列 NewView™ 7300系列 NewView™ 8000系列 Nexview™ 3D 表面輪廓儀主要應用

Stage Position (OEM)
高精度雷射定位載台

Optical Systems Division
特殊精密光學製造


多種波長可供選擇

GPI™ 3390 nm Interferometer
特定波長下的檢測是系統最終調整和品質檢驗的關鍵。光學的應用範圍非常廣泛且多變,如光刻系統、 DVD 和紅外成像透鏡等都需要特定波長來進行檢測,以顯示其所需要的波長變化要求。ZYGO 公司,作 為世界聞名的干涉儀測量先進代表,已經生產並銷售上千台特殊需求的鐳射干涉儀,包括從紫外到紅外 多種波長的鐳射干涉儀。

ZYGO 不僅提供干涉儀主機的各種解決方案,還提供各種附件如透射平面、球面、調整架等以輔助各種波 長鐳射干涉儀的應用和測試。 憑藉近四十年來獲得的干涉儀製造經驗,ZYGO 有能力為多種多樣特定需 求的干涉測量提供完整的解決方案,如特定波長、特定口徑、特定的圖像放大、特定的軟體分析 、特殊 的增強性功能、特殊裝置以及特殊的自動控制等。ZYGO 超強的光學設計能力、先進的工藝和生產能力能 夠為您特定的需要提供無可匹敵的解決方案。

波長 應用
248 nm     紫外透鏡系統檢測,高精度測試需求
363 nm     紫外透鏡系統檢測,高精度測試需求
405 nm     檢測用於 DVD 光學存儲和視聽設備的透鏡
542 nm     檢測光學表面、透鏡、棱鏡、角錐,均勻性等
1053 nm     鐳射熔合、聚變的研究
1064 nm     鐳射棒檢測、近紅外光學系統檢測
1319 nm     近紅外光學系統檢測
1550 nm     光通訊檢測
3.39 μm     一般紅外光學系統檢測
10.6 µm     紅外光學系統檢測、粗糙表面檢測

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