Description
Search
鐳射干涉儀 DynaFiz® Verifire™系列 大光圈鐳射干涉儀 多種波長可供選擇 干涉儀附件 產品升級套件 典型干涉儀配置 MetroPro®軟體介紹 抗振型鐳射干涉儀

3D表面輪廓量測儀 ZeGage™ ZeGage™ Plus NewView™ 8000系列 Nexview™ Nomad™ 3D 表面輪廓儀主要應用

Stage Position (OEM)
高精度雷射定位載台

Optical Systems Division
特殊精密光學製造


NewView™ 7100系列 3D表面輪廓儀

NewView™ 7100 System

Key Features:

• 快速非接觸式掃描

• 亞微米級Z軸分辨率

• 先進的高精度測量能力

• 超強光學圖像

NewView™ 7100白光干涉儀是高性能價格比的非接觸式3D表面輪廓儀。 NewView™ 7100表面輪廓儀以其極高的精密度和準確度定性和定量地反映出樣品的表面粗糙度、台階高度、關鍵部位的尺寸以及樣品的形貌。測量過程精密,高速,非接觸,且樣品無需特殊處理。在高速掃描狀態下縱向測量範圍可以從小於1nm至 20000µm,基於ZYGO 專利的掃描技術。無論怎樣的表面形貌,放大倍數以及台階特性,NewView™ 7100系列只需一次掃描即可達到0.1nm的縱向分辨率,並獲得所有的量測參數。

利用ZYGO專利的同調掃描式干涉儀方法(CSI), NewView™ 7100 3D表面輪廓儀操作簡便,可以輕易獲得各種面的形貌,包括粗糙度,平面度,傾斜度和台階高度。

性能, 價值和功能

NewView™7100提供了高精度測量, 操作簡便, 功能強大,並具有極高的性能價格比,是您在3D表面輪廓儀中的理想選擇。

AMETEK, Inc. Logo 型錄 規格單 手冊 Application Notes 技術檔

Note: Login Required to download Application Notes; Click for details.

Contact ZYGO today for assistance.

National Flags