PTI™ 250系列

當産量提高與性能需求的問題同時出現時，透鏡表面和透鏡半徑製作從而變得越來越關鍵和困難。用於DVD播放機、手機、CD ROM、內窺鏡、數碼相機和其他高産量産品所需的光學元件需求量正快速增長，同時所要求的性能規格也越來越嚴格。然而，這些産品越來越輕薄短小，所以在每一道生産工序上也就越來越不易控制其性能。在光學性能檢測上所遭遇了挑戰，其中包括：光學表面形態、光學表面半徑、球面鏡和非球面鏡的發射波陣，以及多透鏡光學系統的光學性能檢測；製造商也遇到了必須解決影響産品質量下降的一系列問題，例如發生過度或欠缺抛光、光學模具損耗、材質變動與組裝公差等等問題。 PTI™ 250 是一套穩定且易於使用的干涉儀，可以提供透鏡和透鏡系統的3維表面形態面和波陣圖及透鏡曲率半徑與檢測。這是第一套小型干涉儀系統，其與ZYGO公司所製造的干涉儀（也是世界標準）一致。PTI™ 250 是純正的ZYGO干涉儀，同時還提供易於使用和可靠的測量方法且有很好的投資報酬率，極適合高産量生産控制，同時也可作爲科研人員研發使用。

PTI™ 250特點

• 25 mm 孔徑干涉儀
• 附帶涵蓋許多應用範圍的系列光學配件
• 操作方便且快速的干涉條紋對準系統
• 手動孔徑調焦降低邊緣衍射並加強性能
• Z軸手動粗調 300 mm 與微調 30 mm
• 直接與世界標準的ZYGO GPI™ 及VeriFire™ 干涉儀進行校準
• 配有高精度、高可靠度且易於使用的溫控半導體雷射器
• 可選用垂直、水平或向上方式的測試座
• 提供未來産品升級需要與附件使用

根據不同的應用需求PTI™ 250系列分爲：PTI™ 250RS, PTI™ 250P

PTI™ 250RS

• 具備研究用干涉儀所需要的高功能性及靈活性。
• # 在2秒內，可産生多於300,000個圖元的定量三維圖。
• # 位相測量干涉儀，精度大於λ/100。
• # 採用FlashPhase™ 資料獲取方法，在不穩定及有振動的環境下仍能進行可靠測量。
• # 採用標準的Zygo MetroPro® 介面――干涉檢測的國際標準。
• # 可測曲率半徑 (選用)。

PTI™ 250P

• 生産用位元相調製干涉儀。
• # 可産生多於300,000 個圖元的定量表面形態圖。
• 位相測量干涉儀，精度大於λ/100。
• # 採用標準的Zygo MetroPro® 軟體，多語言支援的操作介面。
• # 可測曲率半徑 (選用)。

這裏下載：

PTI™ 250系列產品介紹 中文版 英文版
PTI™ 250RS規格 中文版 英文版
PTI™ 250P規格 中文版 英文版