多種波長可供選擇

特定波長下的檢測是系統最終調整和品質檢驗的關鍵。光學的應用範圍非常廣泛且多變,如光刻系統、 DVD 和紅外成像透鏡等都需要特定波長來進行檢測,以顯示其所需要的波長變化要求。ZYGO 公司,作為世界聞名的干涉儀測量先進代表,已經生產並銷售上千台特殊需求的鐳射干涉儀,包括從紫外到紅外多種波長的鐳射干涉儀。

ZYGO 不僅提供干涉儀主機的各種解決方案,還提供各種附件如透射平面、球面、調整架等以輔助各種波長鐳射干涉儀的應用和測試。憑藉近四十年來獲得的干涉儀製造經驗,ZYGO 有能力為多種多樣特定需求的干涉測量提供完整的解決方案,如特定波長、特定口徑、特定的圖像放大、特定的軟體分析、特殊的增強性功能、特殊裝置以及特殊的自動控制等。ZYGO 超強的光學設計能力、先進的工藝和生產能力能夠為您特定的需要提供無可匹敵的解決方案。

波長		應用

1053 nm		鐳射熔合、聚變的研究

1064 nm		鐳射棒檢測、近紅外光學系統檢測

1550 nm		光通訊檢測

3.39 μm		一般紅外光學系統檢測

10.6 µm		紅外光學系統檢測、粗糙表面檢測

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